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快達2.5ms的測試速度、及高達100MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。

 性能特點 
■ 測試頻率：10Hz-130MHz
■ 高精度：采用自動平衡電橋技術，四端對測試配置
■ 高穩(wěn)定性和一致性
■ 高速度：*快達2.5ms的測試速度
■ 高分辨：10.1英寸電容式觸摸屏，分辨率1280*800
■ 點測、列表掃描、圖形掃描、等效電路、晶體振蕩器分析五種測試方式
■ 1601點多參數(shù)列表掃描功能
■ 四參數(shù)測量
■ 自動電平控制（ALC）功能
■ 4通道圖形掃描功能，每通道可顯示4條曲線，通道和曲線有14種分屏顯示方式
■ 強大的分選：LCR模式10檔分選
■ 圖形掃描模式每條曲線單獨分選
■ 高兼容性：支持SCPI指令集，兼容KEYSIGHT E4990A、E4980A、E4980AL、HP4284A

 應用
■ 無源元件：
   電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。
■ 半導體元件：
   LED驅動集成電路寄生參數(shù)測試分析；變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
■ 其它元件：
   印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等阻抗評估
■ 介質材料：
   塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估
■ 磁性材料：
   鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
■ 半導體材料：
   半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性
■ 液晶單元：
  介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性